La conception pour la testabilité (DFT) dans les puces critiques pour les missions est un élément essentiel du paysage technique moderne. Dans cet article, nous approfondissons les concepts fondamentaux et les orientations futures de cette technologie.
Lors de la conception pour la testabilité (DFT) dans les puces critiques pour les missions, les ingénieurs doivent prendre en compte les compromis entre performance, puissance et surface (PPA). Notre méthodologie chez ChipTalk.AI met l'accent sur une approche holistique où le matériel et les logiciels sont développés en tandem.
Les tests initiaux montrent une amélioration de 30 à 50 % du débit par rapport aux architectures héritées, tout en maintenant une enveloppe de puissance compétitive.
Ingénierie ChipTalk
Deep Tech et silicium personnalisé